OLED发光效率测量系统

我公司推出OLED光谱性能测试系统，OLED发射光谱测量系统，OLED光谱分析仪，OLED光电性能测试系统（IVL曲线，外量子效率EQE），OLED载流子迁移率测量系统、光电性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有效的测试工具。
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应用：
有机发光器件OLED
量子点LED
钙钛矿LED等

主要测试功能：
OLED效率测量/EQE测量，功率效率Lm/W 和电流效率 Cd/A；
发射角度-光谱测量；
光谱&颜色测量@发射角；
CIE xyY和显色指数CRI；
可视角测量；
IVL(电流—电压—亮度)测量；
PL光致发光和EL电致发光测量；
p，s极性测量；

主要技术规格：
角度范围：-85°~+85°；
光谱范围：360nm~880nm，分辨率1.2nm;