OLED 寿命周期测试系统

独立且精密的量测方式(PMU)

• 提供高**度的电压及电流
• 高**度的量测能力
• 单一待测物故障自我控制，不影响其他测试中的待测物

测试功能

• 电气特性量测
• 亮度量测
• 自行设计输出模式(正负电压及电流)

自动测试及资料载入

• PXI机箱含嵌入式控制器
• OLED测试卡 (一张PXI卡可测试两个OLED面板)
• 每个系统*大可提供34组待测物

选购配备

• 频谱分析量测光学特性
• Turnkey 测试解决方案
• 客制化的测试治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
• 部分机架可置入滑动抽屉(每个抽屉有四组治具)58131是专针对OLED寿命试验所设计的测试系统，58131可作电气特性的量测，如正负电压、电流的供给及量测、亮度的量测及自动量测OLED亮度寿命时间，并可选购频谱分析卡，量测光学特性的功能。58131采用PRECISION SOURCE-AND-MEASURE UNITS "PMU"的量测方式，此种系统架构，在任何待测物发生短路或开路时，并不会影响其他待测物之量测或造成系统的任何损毁，每张PXI卡片可提供两组独立且精密的电压、电流输出及量测功能，仅需增加PXI卡片即可立即增加量测组数。

  人性化的软体介面，可自行设计电源输出模式、电源参数值、量测时间、亮度校正等项目，并有曲线绘图、资料表显示及储存，让您可轻松分析测试报告。另外，测试治具的设计，便利的19吋机架，可随意移动测试环境，精密轻巧的测试盒，可轻松替换待测物，电脑主机及荧幕组装于机架上，以随时了解测试状况，18个插槽的PXI机箱，可同时检测34组待测物，让你拥有体积*小，待测模组*多的超迷你测试系统。

  58131 PXI OLED Lifetime Test System 为精巧型的测试系统，提供了*好的量测能力，并采用 "PMU"量测方式，及易于操作的人性化介面，为*佳的OLED 寿命周期测试解决方案。

  硬体架构 li>8/14/18槽PXI机箱 li>52941 533MHz/ 52942 800MHz嵌入式控制器 li>52951 电源量测卡 li>选购19"机架 li>选购 LCD Monitor li>选购滑鼠及键盘

  软体操作介面 测试系统提供了Window操作介面，便利的架构可轻易控制电气及亮度测试 li>选择多种电源输出模式 li>测试中可显示曲线图及资料表 li>同时监控34组待测物 li>具有亮度校正功能 li>亮度达到LIFE TIME时，自动停止测试

  客制化的测试治具 li>每个机箱配合 34 组 OLED 测试治具 li>客制化的测试治具，搭配不同待测物，让操作更加便利

  校正 li>独立校正每个模组