OLED老化寿命测试仪

LED/OLED/QLED老化寿命测试仪是依据OLED工作原理和特性而设计，集成了相应的驱动电源和稳流系统，实现多通道对多个OLED器件进行老化测量，通过计算机数据采集系统记录在恒流情况下驱动电压和发光亮度随时间的变化而计算出OLED的半寿命。

主要特点：
高电流设计，电流0.5A~2A/通道；高匹配电压达20V（60V可选）
技术，无需配套多电源
多通道测量：2 ~256通道测量可选
驱动电流和波形通过显示器便捷可选
通过ON/OFF开关控制，实现每一个测试对象独立控制测试或者串联多个测试对象进行测试
恒流输出电压测量
判定测试对象Good / No Good
温度范围：-40°~150°，RT~200°

测量模式：
恒电流模式
脉冲电流模式
其他常规波形电流模式
用户定义波形电流模式